金诚电子仪器 综合测试仪IFR2945A库存回收

评估、现金、高价、上门收进口仪器仪表
晶体管测试仪产品应用
应用领域
院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较*的器件进行分类配对）
来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类机械设备，实现规模化、自动化测试）

问：什么是有载测试？
   答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

泰克/TEKTRONIX 371买卖TEK371晶体管测试仪
深圳市金诚电子仪器有限公司
联系人:李建强（经理）
地址：深圳市宝安区沙井街道宝安大道8206号创新商务园7楼703室
主要参数：·半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的测量分辨率（370A）
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标（370A）
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。

晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。
本公司经营各类二手进口仪器（销售、租赁业务），成色新，价格低，技术、质量可靠、性能稳定的优良产品。长期承接销售、租赁、维修、回收二手仪器, 包括Agilent、HP、Anritsu、Advantest、R/S、/MARCONI等世界的具备丰富的经验和库存！价格优惠，售后保修服务非常好。高价收购二手仪器仪表。
http://cc518186.b2b168.com