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晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。

问：什么是有载测试？
   答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射较、共基较电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。

ST-SP 2005晶体管测试仪
产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机立完成多种工作。
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